膜厚测量仪，镀层厚度检测仪

膜厚测量仪，镀层厚度检测仪，金属膜厚仪快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金，铂和银，铑，硬币以及所有的首饰合金和镀层。 可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
zui多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
镀层厚度测量仪，金属膜厚仪分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素  膜厚测量仪，镀层厚度检测仪，是一款可靠的采用X-射线荧光方法和*的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
    它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。

     在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-μ可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。

     具有强大功能的X-射线XDVM-μ带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。有需要的有友请希望我们能成为*的合作伙伴
让客户满意，为客户创造zui大的价值是金霖始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！.：王生：   ：  www.kinglinhk.com  地址：宝安中心区宏发中心大厦