【简单介绍】
【详细说明】
fisher电镀膜厚仪可满足所有镀层厚度测量需求的双检测器型镀层测量仪,实现了超微小面积,高精度无损测量。能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度.可测元素范围:钛(Ti) –铀(U)可测量厚度范围:原子序22-92,0.1-0.8μm fisher电镀膜厚仪,能够测量极精密的样品,如:微形部件或线路板上极微细的表面结构,它的新颖X-射线光学镜片,创新的X-射线光学原理,使这部仪器能产生非常小,但高辐射强度的测量点,所以,测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层.fisher膜厚仪极适合对一些较小的样板进行测量,尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、珠宝,连接器,一些电气产品中的小五金零件等等,操作员只需将测试面朝下,不论大小的样品可直接放进测量室内,不用调距离,只需对准位置,便可立即测量,这不单可以令测量更快速,还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。 fisher电镀膜厚仪遵循ASTM B568,DIN ENISO 3497标准,主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。欢迎随时或亲临我司测试及参观!!! 如有任何问题请:王生:133 1655 7996