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金东霖菲希尔膜厚测厚仪

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金东霖菲希尔膜厚测厚仪可满足所有镀层厚度测量需求的双检测器型镀层测量仪,实现了超微小面积,高精度无损测量。

金东霖专业从事菲希尔(fischer)品牌的膜厚(镀层/涂层/氧化膜等)测厚仪器的销售业务服务. 产品种类齐全:XDLM/XULM(X荧光镀层测厚仪),PMP10(PCB铜厚测试仪),X-RAY XAN(X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪),MP0(便携式涂镀层测厚仪),FST系列层压板弯曲强度测试仪等。以XDLM/XULM(X荧光镀层测厚仪)为例其技术规格包含:1.X射线激发系统(参数有:垂直上照式X射线光学系统。空冷式微聚焦型X射线管,Be窗。标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等。功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准。75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选。 装备有安全防射线光闸
。 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选)。

:王生                     :          电子:gggynii


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