FISCHERSCOPE菲希尔 XDVM测厚仪测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。,XRF镀层厚度分析仪配创新的X射线光学系统,专门测量极小的面积
FISCHERSCOPE菲希尔 XDVM测厚仪，是针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层，FISCHERSCOPE X-RAY XDVM测厚仪，还能测量出范围从元素氯（Z＝13）至铀（Z ＝92）。主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描（面积），如：硬盘镀层、细微的线。有*精度，可编程的XYZ测量台及大移动范围，测量室为长方形内槽设计，容许放入大面积的物件进行测量。：王生： ： 地址：宝安中心区宏发中心大厦
| 产品名称 | 参考价 | 地区 | 公司名称 | 更新时间 | |
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