BA-100 美国博曼BA-100X荧光镀层厚度测厚仪

美国博曼BA-100X荧光镀层测厚仪
产品描述：
美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

美国博曼BA-100X荧光镀层测厚仪

产品描述：

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应zui严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

优秀的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的*XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

    ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点

    ● 射线出射点预置于射线管Be窗正*

    ● 长寿命的射线管灯丝

    ● *的预热和ISO温度适应程序 多毛细管聚焦光学结构

    ● 显著提高X射线信号强度

    ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

    ● 小于100um直径的测量斑点

    ● 经过验证，接近*的测量精度：

应用领域： 的镀层应用:

  PCB行业

    Au/Pd/Ni/Cu/PCB

  引线框架

    Ag/Cu

    Au/Pd/Ni/CuFe

  半导体行业

    Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

    Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

  线材

    Sn/Cu

  珠宝、贵金属

10,14,18Kt

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刘振东 136 4094 8714

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