武汉普赛斯仪表有限公司
武汉普赛斯仪表有限公司
半导体分立器件来料检测仪iv,cv曲线测试机具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及仙进工艺的开发，具有桌越的测量效率与可靠性。
SPA6100半导体参数分析仪配置有多种不同规格的SMU，如低压直流SMU、低压脉冲SMU、大电流SMU；用户可根据测试需求灵活配置不同规格，以及不同数量的搭配。更多有关半导体分立器件来料检测仪iv,cv曲线测试机详情上普赛斯仪表官&网咨询
产品特点：
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；
测量精度高,全量程下可达0.03%精度；
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；
自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；
提供灵活的夹具定制方案，兼容性强；
免费提供上位机软件及SCPI指令集；
典型应用：
纳米、柔性等材料特性分析；
二极管；
MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；
第三代半导体材料/器件；
有机OFET器件；
LED、OLED、光电器件；
半导体电阻式等传感器；
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；
电阻率系数和霍尔效应测量；
太阳能电池；
非易失性存储设备；
失效分析；
半导体分立器件来料检测仪iv,cv曲线测试机订货信息
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
泵阀商务网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
