光焱科技 QE-RX光伏电池效率损失分析仪 可用于高效太阳能电池研发。QE-RX 不仅可以测量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 数据，还可以通过结合分析软件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 损失。光焱在 QE-RX 内整合了三种不同的测试功能，并开发了 SQ-JVFLA 软件，帮助用户通过使用 Shockley-Queisser 热极限理论分析三种不同的损失。QE-RX 是您

特色

QE-RX光伏电池效率损失分析仪 的特色如下：

*高度准确且低不确定性

QE-RX 的校准是NIST 可追溯的，这使得 QE-RX 的测试数据的不确定性低于任何其他 EQE 测试系统。同时，QE-RX 是由Enlitech 开发的，Enlitech 拥有 10 年的ISO / IEC 17025 认证的校准实验室。这使得 QE-RX 对 Si 太阳能电池的测试结果高度准确。依靠 QE-RX，它将为您提供可靠的结果。

*结构紧凑但功能多样

QE-RX 将所有光学和机械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主体内，其中包括电信号采集锁相放大器。不限于其紧凑的尺寸，QE-RX 仍然提供各种测试数据，包括太阳能电池的 EQE、光谱响应、反射率和 IQE。紧凑而多功能是 QE-RX 的优势。

*功率损耗分析

QE-RX 结合 SQ-JVFL 软件，可以提供最完整的分析功能，包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和带隙计算。这些参数是生产产量控制和效率建议的关键因素，这使得 QE-RX 成为光伏行业的合作伙伴。

．用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接触、双面和 TOP-Con 硅太阳能电池

．提供 QE（量子效率）、PV-EQE（外部量子效率）、IPCE（入射光子-电子转换效率）、SR（光谱响应）、IQE（内部量子效率）和反射率方面的数据。

．结构紧凑且重复性高超过 99.5%。

．波长范围：300~1200 nm

．Jsc损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。

．职业损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。

．FF损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。

．提供的EQE不确定度评估报告和经ISO/IEC 17025认证的质量控制，可用于期刊论文投稿。

．多样化和定制化的样品测试装置。

系统设计

规格

应用范围

QE-RX光伏电池效率损失分析仪 可用于：

*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太阳能电池效率-损失分析

*IEC-60904-8 光谱响应测量

*IEC-60904-7 失配系数计算

*IEC-60904-1 MMF 校正

*矽太阳能电池加工质量控制

*矽太阳能电池带隙测定