LQ-50X 高灵敏电致发光效率测试系统 拥有以下几点特色：采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件、简便的设计可与手套箱直接整合，能解决目前LED发展所面临的挑战。

光焱科技 LQ-50X 高灵敏电致发光效率测试系统 介紹

目前 LED 发展所面临的挑战包含：

(1) 新型态的 LED 具备低亮度 (< 50000 cd/m²)、衰减快的特性

(2) 发光半宽（FWHM）较传统 LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)

(3) 非朗伯体 (Non-Lambertian) 分布，使得辉度 (cd/m²) 换算 EQE 时误差很大

(4) 发光波长超过视函数波段 (可见光范围)，无法以光通量与辉度评价

其中「衰减快」与「红外发光的准确评价」，是与转换效率高低最息息相关，因此光焱科技推出 LQ-50X，采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件并拥有简便的设计可与手套箱直接整合。

特色

LQ-50X 高灵敏电致发光效率测试系统 的特色如下：

*采用单光子侦测技术，克服传统光谱仪在低亮度需要长曝光时间 (1~3秒) 的特征，加快测试速度，以确保测试的准确性与高效率。

*采用 NIR 增强光学设计与组件，使其涵盖波长可达到 1100 nm，更可扩展到 1700 nm。

*设计简便，并且可与手套箱直接整合，同时对于各种样品形式都可以做很好的适配。

LQ-50X 可快速测试每个电压下的发光光谱，并可取得辐照度、辉度、CIE坐标等多项参数值，实测无机 LED 测试量测不重复性小于 0.2 %。

LQ-50X 为 NIST 溯源，与国外校正的白光与绿光 LED 比对，差异值小于 0.5 %。

规格

标准配置：

*全向式收光系统 (50 mm 积分球)

*增强型多信道光谱仪测试系统

*探针系统

*量测软件

*工控机与屏幕

选配规格：

*红外光谱扩充模块 (900 – 1700 nm)

*手套箱整合套件

应用范围

LQ-50X 高灵敏电致发光效率测试系统 可用于：

*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode

*Organic IR LED

*QD LED / QD Laser Diode

*VESEL Laser Diode

实证

量测结果总览